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Difração de Raios X: Princípios e Aplicações

Difração de Raios X: Princípios e Aplicações

Publicado 11/22/2019, 12:05:39 PM, última modificação 3/8/2024, 1:38:27 PM

Ementa:

Esta disciplina aborda os fundamentos e aplicações da técnica de difração de raios X na
caracterização de materiais metálicos. Os principais tópicos desta disciplina são: Introdução à cristalografia,
Princípios de Funcionamento da Técnica de Difração de raios X, Aplicações e Potencialidades da Técnica
de Difração de Raios X, Uso de software gratuito para análises.

Bibliografia:

Cullity, B. Elements of X-ray Diffraction. Pearson, Edinburgh. 2014.
Vitalij K. Pecharsky ; Peter Y. Zavalij. Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials, 2nd Ed. Springer. 2008.
Rodrigues, J.A. Raios X; Difração e espectroscopia. Edufscar, São Carlos. 2013.
Dinnebier, R.E.; Billinge, S.J.L. Powder diffraction: theory and practice. RSC Publishing, Cambridge. 2008.
Padilha A.F.; Ambrozio Filho, F. Técnicas de análises microestruturais. Hemus Editora. São Paulo. 2004.
Giacovazzo, C. Monaco, H.L. Viterbo, D. Scordari, F. Gilli, G. Zanotti, G. Catti, M. Fundamentals of Crystallography. International Union of Crystallography, Oxford University Press. Oxford. 2000.
Suryanarayana, C.; Norton, M.G. X-Ray diffraction: A practical approach. Springler Science + Business Media. New York. 1998.
Jenkins, R. Snyder, R. L. Introduction to X-ray Powder Diffractometry. John Wiley & Sons, Inc. New York. 1996.
Winefordner, J.D. Chemical Analysis. John Wiley & Sons, INC. New York. 1996.
A.C. Larson and R.B. Von Dreele, General Structure Analysis System (GSAS), Los Alamos National Laboratory Report LAUR 86-748 (2004).

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