PROFESSORES DO CAMPUS PUBLICAM ESTUDO EM PERIÓDICO NTERNACIONAL
Publicado na RSC Advances da Sociedade Científica do Reino Unido, Royal Sociedade of Chemistry (RSC), o trabalho com o título "Novel insights into nanoscale surface displacement detection in polystyrene thin films using photothermal mirror- and atomic force microscopy-mid-IR spectroscopy" apresenta uma nova técnica para a análise química de filmes finos com espessura nanométrica depositado sobre um substrato transparente. Uma vantagem notável do método proposto, denominado espectroscopia de espelho fototérmico no infravermelho médio (PTM-IR), é a capacidade de detectar remotamente mudanças sutis na absorção óptica e deformação superficial, tornando o método altamente sensível e uma ferramenta valiosa para caracterização in situ de filmes finos, onde medições rápidas e sem contato são necessárias.
No estudo também foi avaliado a utilização da técnica de microscopia de força atômica com espectroscopia no infravermelho (AFM-IR). Simulações numéricas da variação de temperatura e deformação superficial foram realizadas e oferecem insights valiosos na compreensão das interações de feixes lasers com filmes fino absorvedores.
O estudo foi desenvolvido durante estágio pós-doutoral realizado pelos professores Gustavo V. B. Lukasievicz e Elizandra Sehn na Universidade Tecnológica de Viena (TU Wien), localizada na cidade de Viena na Áustria.
